Se realizó en las instalaciones de la UAT, CCT CONICET-Bahía Blanca, los días 22 y 23 de Octubre de 2009, un Workshop sobre Microscopía Electrónica de Barrido.

En el mismo se abordaron diversos temas relacionados con las últimas tendencias en SEM de presión variable y aplicaciones de la Microscopia Electrónica de Barrido relacionadas con las áreas de ciencias de la vida y de los materiales.

Las conferencias y ponencias ofrecidas a la comunidad científica fueron:

• VP SEM: principles and applications, por el Dr. M. Ramírez, Carl Zeiss, México
• SEM: News and trends, por el Dr. A. Casares, Carl Zeiss, Alemania
• Algunos problemas y aplicaciones del microanálisis con sonda de electrones (EDS-WDS), por el Dr. J. Tricavelli, FAMAF, Córdoba.
• Comparación de mediciones obtenidas con espectrómetros EDS y WDS acoplados a un SEM y a un equipo convencional de XRF, por la Dra. M. Torres Deluigi, Univ. Nac. de San Luis.
• Aplicaciones de la Microscopía electrónica de barrido al estudio de la microestructura de alimentos, por la Prof. V. Sorrivas, UAT CCT-CONICET Bahía Blanca.